當前位置:北京瑞科中儀科技有限公司>>產品展示>>薄膜測量儀器
簡要描述:光譜橢偏儀為了獲得測量結果,在數據采集過程中沒有光學器件運動。步進掃描分析器(SSA)原理是SENresearch 4.0光譜橢偏儀的一個特性。通過創...
簡要描述:自動光譜橢偏儀SENDURO#174;所有的全自動光譜橢偏免除了用戶根據高度和傾斜度手動地對準樣品的麻煩,這對于高精度和可重復的光譜橢偏是必要的。
簡要描述:紅外光譜橢偏儀SENDIRA利用紅外光譜中分子振動模的吸收帶,可以分析薄膜的組成。此外,載流子濃度可以用傅立葉紅外光譜儀FTIR測量。
簡要描述:低成本高效益的光譜橢偏儀SENpro覆蓋寬的光譜范圍,從190 nm(深紫外)到3500 nm(近紅外)。傅立葉紅外光譜儀FTIR提供了高光譜分辨率用...
簡要描述:橢偏反射儀性能優異的多角度手動角度計和角度精度*的激光橢偏儀允許測量單層薄膜和層疊膜的折射率、消光系數和膜厚。
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